TIM1 是芯片封装内部直接接触裸 die 的热界面材料。它决定了芯片结温能否被有效导出,也决定了封装能否通过温循、老化与翘曲验证。这是整个散热链路里最难做、也最容易被忽视的一层。

一、TIM1 在封装里的位置

  • TIM1:die 与 lid / 均热板之间,直接接触裸芯片,最薄、要求最高
  • TIM1.5:lid 与散热器之间(部分封装结构)
  • TIM2:散热器与均热板 / 冷板之间,常见导热垫或硅脂位置

芯片厂与封装厂对 TIM1 的考核最严:导热性能、机械性能、长期稳定性缺一不可。国内能实现 TIM1 小批量供货的材料企业极少。

二、TIM1 的四个技术难点

难点 1:BLT 极薄,热阻要求苛刻

封装内部 bond line 通常只有 0.1–0.5 mm,普通硅胶垫(1–5 W/m·K)在这一厚度下热阻占比过高,直接推高结温。

难点 2:封装翘曲导致界面分层

大尺寸 AI 芯片在回流与功率循环中会产生翘曲,界面若不能自适应间隙变化,就会出现局部空洞、分层。

难点 3:不能泵出、不能干裂

硅脂在反复功率循环后会泵出到边缘,形成干涸区。封装内部一旦泵出,无法维护。

难点 4:长期高温稳定性

封装内材料要承受长期高温与温度交变,热阻与压缩率不能明显漂移。

三、烯冷的 TIM1 方案:纵向石墨烯导热垫

参数数值说明
导热系数180 W/m·K(纵向 / 厚度方向)垂直取向石墨烯,高导热方向即 die → lid 的热流方向
热阻<0.05 °C·cm²/W @ 50 psi低装配压力下即可实现低界面热阻
厚度0.3 / 0.5 / 0.7 mm(定制 0.2–2.0 mm)适配不同 BLT 要求
工作温度−40 ~ +200 °C覆盖功率器件与高温封装场景
老化稳定性150 °C × 1500 h,热阻 / 压缩变化 ≤10%量产验证数据
压缩回弹高压缩、高回弹自适应翘曲与间隙变化,避免分层
界面形态固态,无液态载体无泵出、无干裂、无迁移
绝缘强度>5 kV/mm可按需复合绝缘结构

四、与常见 TIM1 方案的对比

方案纵向导热泵出风险装配压力要求长期稳定性
导热硅脂中高高易干涸、泵出
相变材料(PCM)中中中受温度循环限制
普通硅胶垫低(1–5 W/m·K)低中压缩永久变形
烯冷石墨烯导热垫180 W/m·K无(固态)10–50 psi1500 h 老化 ≤10%

五、按封装类型的选型建议

封装场景推荐方案要点
FCBGA / 大尺寸 dieEN-PAD-050薄 BLT,低热阻,抗翘曲
SiP / 多 die 异构EN-PAD-050 / 070适配共面度差异
2.5D / 3D 堆叠(含 HBM)EN-PAD-030 / 050 + EN-PLT低应力、抗翘曲
Chiplet / 先进封装EN-PAD-030 / 050薄型化、高压缩回弹
功率模块 IGBT / SiCEN-PAD-100 + EN-PLT-100/200耐 200 °C,抗功率循环

六、样品与验证支持

  • 常规样品规格 30×30 mm(0.5 mm 厚),1 片起,可按图模切
  • 出样约 2 周;量产 2–3 周(标准厚度)
  • 测试方法:ASTM D5470 稳态热阻;可提供热阻-压力曲线
  • 可靠性:150 °C × 1500 h 老化、功率循环、TML/CVCM 出气测试
  • 随货文件:批号 CoA、尺寸检验报告;完整测试报告可按需提供
  • 工程支持:提供翘曲量、BLT、装配压力、功耗与寿命目标,我们给出热阻预算与推荐厚度
想做 TIM1 验证? 把封装结构(die 尺寸、翘曲量、BLT、装配压力、功耗、寿命)发给我们,我们按你的工况给出选型与样品,约 2 周交付可验证样品。 联系我们 →

常见问题

TIM1 和 TIM2 有什么区别?
TIM1 指芯片封装内部、直接接触裸 die 的热界面材料(die 与 lid / 均热板之间),BLT 最薄、可靠性要求最高;TIM2 指芯片封装外壳与散热器或液冷板之间的界面,通常厚度更大、压力更低。两者对材料的要求完全不同。
石墨烯导热垫能做 TIM1 吗?
可以。我们的石墨烯导热垫是固态、可压缩的纵向导热材料,纵向导热系数 180 W/m·K、热阻低于 0.05 °C·cm²/W,且经过 150 °C × 1500 h 老化验证,热阻与压缩率变化均 ≤10%,适合封装内薄界面应用。
封装翘曲怎么办?
高压缩回弹材料可自适应间隙变化。建议按实测翘曲量选择厚度(0.3 / 0.5 / 0.7 mm),并保证 10–50 psi 的装配压力,可显著降低界面空洞与分层风险。
会不会泵出或干裂?
不会。石墨烯导热垫是固态材料,不含液态载体,因此不存在硅脂的泵出、干涸、迁移问题,封装内部长期使用更可靠。
可以提供哪些验证数据?
ASTM D5470 热阻-压力曲线、150 °C × 1500 h 老化(热阻/压缩变化 ≤10%)、功率循环、击穿电压、TML/CVCM 出气测试,以及批号 CoA 与尺寸检验报告。